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Agilent 4284A|HP4284A|HP-4284A|LCR测试仪|数字电桥 20Hz至1MHz

产品名称: Agilent 4284A|HP4284A|HP-4284A|LCR测试仪|数字电桥 20Hz至1MHz
产品型号: Agilent 4284A
产品展商: Agilent/HP
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简单介绍

Agilent 4284A|HP4284A|HP-4284A|LCR测试仪|数字电桥 20Hz至1MHz 品牌: 安捷伦 | Agilent | 惠普 | HP ·20Hz-1MHz具有8600个以上的测试频率 ·0.05%的基本精度,6位数字分辨率 ·恒定的V或I测试信号电平 ·20Vrms电平选件(选件001) ·用Alilent 42841A进给出40Adc ·具有列表扫描测量功能



Agilent 4284A|HP4284A|HP-4284A|LCR测试仪|数字电桥 20Hz至1MHz  的详细介绍

Agilent 4284A|HP4284A|HP-4284A|LCR测试仪|数字电桥 20Hz至1MHz


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品牌: 安捷伦 | Agilent | 惠普 | HP

·20Hz-1MHz具有8600个以上的测试频率
·0.05%的基本精度,6位数字分辨率
·恒定的V或I测试信号电平
·20Vrms电平选件(选件001)
·用Alilent 42841A进给出40Adc
·具有列表扫描测量功能
Agilent 4284A精密LCR测试仪是用于元件和材料测量的价廉物美的仪器。它通过提供精确、高吞吐量的测试方法来改善元件的质量。20Hz到1MHz宽的测频范围和优良的测试信号,使4284A在测试元件时符合蕞通行的测试标准如IEC/MIL标准(国际电工委员会或美国军用标准),且工作在模拟所使用的工作条件下。无论在研究开发、生产、质量保证中还是进货检验,4284A都能满足全部LCR测量要求。
技术指标
 
 
被测参数 |Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,C-D,Q,ESR,G,Rp,L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差

测量电路模式 串联和并联

量程转换 自动和手动

触发 内部、外部和总线(HP-IB)

延迟时间 0-60.00s以1ms步进

测量终端 四端对

测试电缆长度 标准:0和1m;带选件006时:0、1、2和4m

积分时间: 短、中等和长

取平均: 1-256可程控

测试信号: 20Hz-1MHz±0.01%8610个可选择频率

测试信号方式: 
 
标准: 分别在开路或短路的测量端,而不是在被测件上对选一的电压或电流编程

恒定: 维持被测件上选定的电压或电流,而与器件阻抗和变化无关

测试信号: 
电平 标准 恒定
4284A 5mV~2V,50μA-20mA 10mV-1V,100μA-10mA
选件001 5mV~2V,50μA-200mA 10mV-10V,100μA-100mA

直流偏置: 标准:0V,1.5V和2V

选件:0V-±40V
测量显示范围 

参数 范围
|Z|,R,X 0.01mΩ-99.9999MΩ
|Y|,G,B 0.01nS-99.9999S
C HP
4284A:0.01fF-9.9999F
L HP 4284A:0.01nH-99.9999kH
D 0.000001-9.99999
Q 0.01-99999.9
θ -180.000°~180.000°
Δ% -999.999%~999.999%

基本测量精度 

|Z|,C,L D
0.05% 0.0005
补充特性: 
 
测量时间: 从触发命令到处理器界面连接器上的结束测量(EOM)输出的典型测量时间
短 40ms
中等 190ms
长 830ms
选件001直流偏流输出 100mA
max
显示器:  
LCD点阵显示: 显示被测值,控制设置,比较极限和判决,列表扫描表,自测试信息和信号指示
修正功能 开路/短路误差为0:消除由测试夹具杂散寄生阻抗引起的测量误差
接负载: 利用已校器件作为参考来改善测量精度
列表扫描功能 蕞多可对10个频率或测试信号电平编程。可进行单次测试或顺序测试,当安装上选件001时,还能进行直流偏压测试
比较器
  10仓室(ten-bin)分类用于一次测量参数。输入/输出用于一次测量参数
仓室计数: 0-999999
 
列表扫描比较器: 高/符合/低判定输出用于列表扫描表中的每个测量点
 
其它功能:  
存储/加载: 
10个仪器设置可以由内部非易失存储器存储/加载。10个附加设置还能由一个储存卡存储/加载
HP-IB 所有仪器控制设置,被测值,比较极限,列表扫描表和自测试结果
存储器: 存储缓存器能存储蕞多128个测量结果,并经GPIB输出数据,ASCII和64位二进制数据格式
一般技术指标
 
 

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