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LCR测试仪

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产品名称: LCR测试仪
产品型号:
产品展商: 安捷伦
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简单介绍

Agilent4287A射频测试仪LCR在1MHz~3GHz频率范围可以提供**, 可靠和快速测量,以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。 与反向测量技术不同,采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行**测量。


LCR测试仪  的详细介绍
Agilent4287A/LCR测试仪/4287A/3G LCR测试仪

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品  牌: Agilent
产品型号: 4287A
产品指标: 1MHz-3GHz 
产品信息: Agilent4287A射频LCR测试仪
Agilent 4287A射频LCR测试仪在1MHz~3GHz频率范围可以提供**、可靠和快速测量,以改进生产线上对电子元件进行测

试的质量和生产率。与反射测量技术不同,采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行**测量.
技术指标
测量参数:|Z|,|Y|,L,C, R,D, Q, X,G,B,θ 
测量电路形式:串联和并联 
工作频率:1 MHz~3 GHz 
频率分辨率:10 kHz 
信号源特性: 
振荡器电平:5mVrms~0.25Vrms(输出端开路) 
电平显示单位:V,I,dBm 
连接器:APC-3.5 
输出阻抗(额定值):50Ω 
触发:内部,外部,手动和GPIB 
阻抗测量范围:200 mΩ~3 kΩ 
基本测量精度:|Z|:1%;D:0.01 
测量时间:10 ms 
接口:GPIB,处理器接口 
显示器:8.4英寸彩色LCD显示器 
储存:内置HDD/FDD,备用SRAM存储器
一般指标
工作温度/湿度:10~40℃/相对湿度15%~80% 
预热时间:30分钟 
电源要求:90V~132V,或198V~264V,47Hz~66Hz,500VA(*大值) 
尺寸:主机:426mm(宽)×234mm(高)×446mm(长) 

主要技术资料

·仪器指标:
1MHz~3GHz,以100KHz分档
阻抗测量范围宽,从200mΩ到3KΩ
在低测度信号电平上具有优良的测量重复性
基本精度为1%
高速测量9ms
·Agilent4287A射频测试仪LCR在1MHz~3GHz频率范围可以提供**,
可靠和快速测量,以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。
与反向测量技术不同,采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行**测量。
·生产率高、质量可靠
安捷伦 4287A 适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量速度非常快。此外,在小测试电流(100mA)处优良的

测试重复性还可以显著提高生产率,因为所需的取平均过程非常短。
·系统组建简单
测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件接点附近,而不会使误差有任何增大。内置比

较器功能、高速GPIB接口和处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适

用于多频或阵列芯片测试。
·便于使用
8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。内置统计分析功能可

以提供监视测试质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产监控。此外,若干APC-7,SMD测试夹具可以与

4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配器联用,从而无需制作专用夹具。
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